真空衰減法微泄漏無(wú)損密封測試儀依據《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標準檢測方法-真空衰減法》 標準研發(fā)。 專(zhuān)業(yè)適用于各種空的/預充式注射器、水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等試樣的 無(wú)損正、負壓的微泄漏測試。本產(chǎn)品采用*的設計和嚴謹、科學(xué)的計算方法保證了其快速測試和高準確度及高穩定 性。亦可滿(mǎn)足用戶(hù)的非標準(軟件或測試夾具)定制。
真空衰減法作為無(wú)損定量檢漏技術(shù)的代表,相比傳統檢漏方法如染色法、微生物侵入法優(yōu)勢明顯;相比其他的無(wú)損檢漏技術(shù)如激光法,適用范圍廣,符合標準多。 MLT-V100微泄露無(wú)損密封儀具有真空衰減法的最高檢漏精度≤1um,不僅適用于高、低真空度及常壓的包裝,也適用于固體、液體填充的包裝,非常適合于制藥行業(yè)的客戶(hù)使用。
與行業(yè)里長(cháng)用的的檢測方法對比:
染色法:? 破壞性測試 ? 受多方面因素影響 ? 可能會(huì )出現假陽(yáng)性結果
微生物侵入法:? 破壞性測試 ? 泄漏通道為曲折路徑時(shí)漏檢率高 ? 測試時(shí)間長(cháng),測試過(guò)程繁瑣
真空衰減法:? 無(wú)損測試? 定量檢測? 測試時(shí)間短? 可以檢測高真空度、低真空度和常壓的包裝
? 可以檢測液體部分的完整性 ? 可以直接檢測出泄漏率和漏孔大小
? 同時(shí)符合美國ASTM標準和FDA要求? 封口前泄漏封口后完好的包裝可以檢出