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介紹薄膜測厚儀的測試原理及操作方法

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 　　薄膜測厚儀是一種常用的薄膜厚度檢測方法，采用機械接觸式測量標準，適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量，誤差小，操作簡(jiǎn)單方便，滿(mǎn)足GB/T 6672《薄膜和薄片厚度測定 機械測量法》等標準。
　　薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離。對于微電子薄膜而言，如光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等，其厚度是一個(gè)非常重要的參數，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。除此之外，薄膜的厚度也會(huì )直接影響到薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等。
　　測試原理
　　將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
　　薄膜測厚儀操作方法介紹
　　根據國標中的要求，對同一張薄膜選取10個(gè)測試點(diǎn)，薄膜厚度測量方法如下：
　　1、將兩個(gè)激光傳感器分裝在薄膜試樣的上下方，把傳感器固定在支架上。
　　2、打開(kāi)儀器，設置參數，放置對比量塊，點(diǎn)擊“確認”。
　　3、取走滑塊，重新設置與步驟（2）相同的參數，放入薄膜試樣。
　　4、分別取10個(gè)不同的點(diǎn)，位置盡量錯開(kāi)，避免因距離太近影響數據。
　　5、測量值通過(guò)串口傳輸到計算機，再通過(guò)在計算機上的測厚軟件進(jìn)行處理，得到目標的厚度值。
　　更多關(guān)于薄膜測厚儀可以關(guān)注我們的網(wǎng)站，還有什么想要了解的內容，可以給小編留言告訴小編哦，小編整理好內容，下期新聞再跟大家見(jiàn)面！

 

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